InGaAsP 系半導体レーザ（LD)を用いてプラスチックの有無を簡単に識別する技術を開発しました。各種のプラスチックにおける光吸収スペクトルを波長範囲300～3000nmで測定した結果、いずれのプラスチックにおいても、種類にかかわらず波長約1700nm 近傍に必ず光吸収のピークが存在することが分かりました。プラスチックの有無についての識別であれば、この波長帯のLDを用いることにより、極めて簡単な光学系によるセンシングが可能です。また、さらに内容を発展させ、それぞれのプラスチックが近赤外領域に固有に持つ光吸収特性に着目し、3種の波長のLDを用いることでプラスチックの種類識別を可能とする技術を世界で初めて開発しました。